在半导体制造和材料科学领域中，方块电阻是一个重要的参数，用于描述导电材料的电学特性。方块电阻（Sheet Resistance, Rs）是指单位面积上的电阻值，通常以欧姆每平方（Ω/sq）为单位表示。它与材料的厚度和电导率密切相关。
方块电阻的计算公式可以表示为：
\[ R_s = \rho / t \]
其中：
- \( R_s \) 表示方块电阻（单位：Ω/sq）；
- \( \rho \) 表示材料的体电阻率（单位：Ω·m）；
- \( t \) 表示材料的厚度（单位：m）。
从这个公式可以看出，方块电阻与材料的厚度成反比关系。当材料的厚度增加时，方块电阻会减小，反之亦然。这一特性在薄膜器件的设计中尤为重要，因为薄膜的厚度直接影响其电学性能。
此外，在实际应用中，方块电阻可以通过四探针法或其他测量技术进行精确测定。这种测量方法能够直接反映材料表面的导电性，从而为器件设计提供可靠的数据支持。
总之，方块电阻的计算公式为研究和优化导电材料提供了理论基础，并在电子工业中具有广泛的应用价值。
（注：本文内容基于公开知识整理而成，旨在帮助理解相关概念。）
