X射线荧光光谱法（XRF）是一种用于分析材料成分的技术，其核心在于利用物质对X射线的吸收和发射特性来确定样品中的元素组成。当样品受到高能X射线照射时，原子内层电子被激发并跃迁至更高能级，随后以特征X射线的形式释放能量，这一过程被称为荧光辐射。不同元素具有独特的荧光X射线波长，因此通过检测这些特征波长即可实现定性与定量分析。
在实际应用中，XRF技术主要分为能量色散型和波长色散型两大类。前者依靠半导体探测器捕捉不同能量级别的X射线信号，后者则借助晶体衍射原理分离出特定波长的X射线。两者各有优势，在工业检测、地质勘探及考古研究等领域发挥着重要作用。
值得注意的是，尽管XRF方法操作简便且无损检测，但其准确度高度依赖于仪器校准以及样品状态。此外，对于轻元素或复杂基体下的微量成分分析可能存在一定局限性。因此，在使用该技术时需结合具体应用场景合理选择设备类型，并充分考虑可能影响结果的因素。
